| 是否进口：否 | 加工定制：否 | 类型：超声波测厚仪 |
| 品牌：达高特 | 型号：CMX DL+ 测厚仪 | 测量范围：0.63－508mmmm |
| 显示方式：* | 电源电压：*V | 外形尺寸：63.5X165X31.5 mmmm |
CMX DL+ The CMX DL+ 测厚仪
The CMX DL+ 测厚仪不仅有MVX的所有功能，而且还有同时测量金属基体和表面非金属涂层厚度的能力。
测量方式（仅测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、仅测量涂层厚度）
显示模式（数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<仅cmx>）
增益可调节：***、低、中、高、超高
增益值可到110dB
自动增益控制（AGC）
时间增益校正（TCG）
探头自动识别，自动调零和温度补偿
值、最小值显示
可存储64个用户参数设置
高速扫查（50次/秒）
高达140HZ的脉冲重复频率
B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
A扫描波形显示和RF显示（CMX DL+）
差值测量模式
高速扫查功能可用于快速找到壁厚的最小值
上/下限声光报警功能
数据存贮：可存储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告
CMX DL+
键盘
12键按键
测量范围
界面波-底波(P-E)方式：0.63－508mm
带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－508mm
多层测量(PECT)方式：0.63－508mm（基体） 0.01－2.54mm（表面涂层）
穿透涂层测量(E-E)模式：2.54 —102mm（因涂层的不同会有所变化）
仅测量涂层(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂层的不同会有所变化）
显示精度
0.01mm（可方便的进行公制和英制的转换）
声速范围
1250－13995m/s
工作温度
-10℃—60℃
探头类型
1—10MHZ双晶探头
探头接口
LEMO“00”，可以使用MX、MMX系列测厚仪的探头
通讯接口
RS232接口（配备USB转RS232接头）
电池工作时间
150小时（3节5号碱性电池）100小时（3节5号镍镉电池）
省电功能
5分钟无任何操作后能自动关机
显 示 屏
62X45.7mm（240 X 160像素），大数字厚度值显示（厚度值数字高度可达17.78mm）
外观尺寸
63.5X165X31.5 mm
重量
382 g
显示精度
合金外壳
上海楹点检测设备有限公司提供仪器维修，仪器租赁，产品带检，技术培训，产品配件选型，仪器说明书.网站图仅供参考，以实物图为准，由于公司经营品牌产品太多，为了节约您的时间，价格货期请直接联系我们客服获取产品信息。供应以下品牌：汕超、贝克休斯（原美国GE/德国KK）、奥林巴斯（EVIDENT/仪景通；Olympus NDT）、友联，中科，信固CYGNUS、美国磁通（Magnaflux）、DAKOTA等。保护膜探头：B1S B1S-EN B1S-O B2S（B2S***） B2S-EN B2S-O B2S-O-EN B4S B4S-EN B4S-O B4S-O-EN B5S MB2S MB2S-EN MB2S-O MB4S MB4S-EN MB4S-O MB5S MB5S-O SEB2S SEB4S MSEB2S MSEB4S；双晶探头：SEB1 SEB1-EN SEB2 SEB2-EN SEB2-0° SEB2-EN-0°SEB4 SEB4-EN SEB4-0° SEB4-EN-0°MSEB2 MSEB2-EN MSEB4 MSEB4-EN MSEB4-0°MSEB5 SEB2KF5 SEB4KF8 SEB4KF8-EN SEB5KF3 SEB10KF3 SEB10KF3-EN 线缆：MPKL2 MPKLL2 PKLL2 SEKG2 MPKM2 KBA533
